| Поле | Инд. | ПП | Название | Значение |
|---|---|---|---|---|
| Тип записи | a | |||
| Библиографический уровень | a | |||
| 001 | Контрольный номер | RU/IS/BASE/431008386 | ||
| 005 | Дата корректировки | 20180409143412.1 | ||
| 020 | a | ISBN | 978-5-7609-0560-4 | |
| 040 | a | Служба первич. каталог. | НБ ТвГУ | |
| b | Код языка каталог. | rus | ||
| e | Правила каталог. | PSBO | ||
| 041 | 0_ | a | Код языка текста | rus |
| 098 | b | Факультет | Физико-технический | |
| c | Кафедра | теоретической физики | ||
| 245 | 10 | a | Заглавие | Исследование наноразмерных пленочных структур диоксида кремния эллипсометрическим методом |
| 260 | a | Место издания | Тверь | |
| b | Издательство | Тверской государственный университет | ||
| c | Дата издания | 2011 | ||
| 504 | a | Библиография | Библиогр.: с.95 | |
| 520 | 0_ | a | Аннотация | В статье представлены результаты исследования наноразмерных пленочных структур диоксида кремния с использованием фотометрического спектроэллипсометра "Эльф". На основе анализа спектра эллипсометрических углов было проведено определение толщины слоя диоксида кремния на различных подложках. |
| 653 | 0_ | a | Ключевые слова | Наноструктуры |
| 653 | 1_ | a | Ключевые слова | Поверхностные явления |
| 653 | 1_ | a | Ключевые слова | Диоксид кремния |
| 653 | 1_ | a | Ключевые слова | Наноразмерные пленки |
| 653 | 1_ | a | Ключевые слова | Толщина пленок |
| 653 | 1_ | a | Ключевые слова | Пространственный профиль пленок |
| 653 | 1_ | a | Ключевые слова | Эллипсометрия |
| 653 | 1_ | a | Ключевые слова | Труды Тверского государственного университета |
| 700 | 1_ | a | Другие авторы | Ким, Дмитрий Анатольевич |
| q | Полное имя | Ким, Д. А. | ||
| 700 | 1_ | a | Другие авторы | Сдобняков, Николай Юрьевич |
| q | Полное имя | Сдобняков, Н. Ю. | ||
| 700 | 1_ | a | Другие авторы | Соколов, Денис Николаевич |
| q | Полное имя | Соколов, Д. Н. | ||
| 700 | 1_ | a | Другие авторы | Воронова, Елена Александровна |
| q | Полное имя | Воронова, Е. А. | ||
| 700 | 1_ | a | Другие авторы | Михайлова, Ольга Владимировна |
| q | Полное имя | Михайлова, О. В. | ||
| 700 | 1_ | a | Другие авторы | Зыков, Тимур Юрьевич |
| q | Полное имя | Зыков, Т. Ю. | ||
| 773 | 08 | w | Контрольный № источника | RU/IS/BASE/392298609 |
| t | Название источника | Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов | ||
| d | Место и дата издания | Тверь : Тверской государственный университет, 2011 | ||
| g | Прочая информация | Вып. 3. - С. 87-95 | ||
| 856 | 40 | u | URL | http://texts.lib.tversu.ru/texts/11496t.pdf |
| x | Примечание для ЭОР | Справка УИС 2016 | ||
| i | Дата подключения ЭОР | 20170412 | ||
| x | Примечание для ЭОР | Реестр суммарного учета сетевых локальных документов | ||
| 900 | a | Имя макрообъекта | 11496t | |
| 901 | t | Тип документа | a | |
| 920 | a | Оператор | Корж |