Представление документа в формате MARC21

Поле Инд. ПП Название Значение
Тип записи a
Библиографический уровень a
001 Контрольный номер 73cfd125e6484defb40d30bcb76d4b56
005 Дата корректировки 20190703162810.3
020 a ISBN 978-5-7609-1275-6
040 a Служба первич. каталог. НБ ТвГУ
b Код языка каталог. rus
e Правила каталог. PSBO
041 0_ a Код языка текста rus
097 b Оператор Raenko.AV
100 1_ a Автор Нагаплежева Рузанна Руслановна
q Полное имя Нагаплежнева Р.Р.
245 10 a Заглавие ACM исследование морфологии поверхностного слоя сапфира после плазменной обработки поверхности
260 a Место издания Тверь
b Издательство Тверской государственный университет
504 a Библиография Библиогр.: с. 340 (4 назв.)
520 0_ a Аннотация Проведено методом атомно-силовой микроскопии (ACM) исследование поверхности сапфира после плазменной обработки. Получены ACM изображения поверхности сапфира в исходном состоянии и после плазменной обработки.Установлено, что после плазменной обработки среднее арифметическое отклонение профиля поверхности увеличивается и при этом поверхность становится более однородной
653 0_ a Ключевые слова Плазма
a Ключевые слова Сканирующая зондовая микроскопия
a Ключевые слова Атомно-силовая микроскопия
a Ключевые слова Сапфир
a Ключевые слова Физика
a Ключевые слова Физические методы
700 12 a Другие авторы Оракова Мариям Мустафаевна
q Полное имя Оракова М.М.
700 12 a Другие авторы Люев Валерий Кашифович
q Полное имя Люев В.К.
773 18 w Контрольный № источника 42e2f0140eee4552ac3821e5ea91fec8
t Название источника Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов
d Место и дата издания Тверь : Тверской государственный университет, 2017
g Прочая информация Вып. 9. - С. 337-340
856 40 u URL http://texts.lib.tversu.ru/texts/14677t.pdf
x Примечание для ЭОР Реестр суммарного учета сетевых локальных документов
x Примечание для ЭОР Справка УИС 2017
i Дата подключения ЭОР 20190703
901 t Тип документа a
920 a Оператор Раен
954 b Дата поступления в ОК 20190611