| Поле | Инд. | ПП | Название | Значение |
|---|---|---|---|---|
| Тип записи | a | |||
| Библиографический уровень | a | |||
| 001 | Контрольный номер | 33f25c3609bd434282f5d6eea191dd9e | ||
| 005 | Дата корректировки | 20240320152418.0 | ||
| 040 | a | Служба первич. каталог. | НБ ТвГУ | |
| b | Код языка каталог. | rus | ||
| e | Правила каталог. | PSBO | ||
| 041 | 0_ | a | Код языка текста | rus |
| 097 | b | Оператор | Komarova.ES | |
| 098 | b | Факультет | Физико-технический | |
| c | Кафедра | Прикладной физики | ||
| 245 | 10 | a | Заглавие | Влияние оптической обработки на структуру поверхности монокристаллов парателлурита |
| 260 | a | Место издания | Тверь | |
| b | Издательство | Тверской государственный университет | ||
| 504 | a | Библиография | Библиогр.: с. | |
| 520 | 0_ | a | Аннотация | Исследовалось влияние оптической обработки поверхностей монокристалла парателлурита, соответствующих кристаллографическим плоскостям (100), (110) и (001). С помощью оптического профилометра NanoMap WLI1000 контролировался рельефный слой поверхности образцов. Для исследования влияния способа полирования процесс проводили с использованием трех методик – нейтральная полировка, кислотная, полировка и щелочная полировка. Определены характеристики поверхностей парателлурита после шлифования и полирования. Сделаны выводы о преимущественном использовании полирования с применением химических реактивов. Показана анизотропия отличающихся кристаллографическими направлениями поверхностей на скорость шлифования и полирования и на характеристики поверхностей. Исследования структуры шлифованных и полированных поверхностей, соответствующих кристаллографическим плоскостям, показали, что максимальная высота шероховатости наблюдается для плоскости (001). Максимально гладкая поверхность достигается для поверхностей, совпадающих с кристаллографической плоскостью. |
| 653 | 0_ | a | Ключевые слова | Плоскость |
| a | Ключевые слова | Кристаллизация | ||
| a | Ключевые слова | Труды Тверского государственного университета | ||
| a | Ключевые слова | Монокристаллы парателлурита | ||
| a | Ключевые слова | Оптическая поверхность | ||
| a | Ключевые слова | Шлифование | ||
| 700 | 12 | a | Другие авторы | Молчанов С. В. |
| 700 | 12 | a | Другие авторы | Третьяков С. А. |
| 700 | 12 | a | Другие авторы | Иванов А. М. |
| 700 | 12 | a | Другие авторы | Каплунов И. А. |
| 773 | 18 | w | Контрольный № источника | 3de2680f60bd46b1bd796c3bdd210329 |
| t | Название источника | Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов | ||
| d | Место и дата издания | Тверь : Тверской государственный университет, 2023 | ||
| g | Прочая информация | Вып. 15. - С. 777-786 | ||
| 856 | 40 | u | URL | http://texts.lib.tversu.ru/texts/153641t.pdf |
| x | Примечание для ЭОР | Справка РИУ 2023 | ||
| x | Примечание для ЭОР | Реестр суммарного учета сетевых локальных документов | ||
| i | Дата подключения ЭОР | 20240320 | ||
| 901 | t | Тип документа | a | |
| 920 | a | Оператор | Кома | |
| 954 | b | Дата поступления в ОК | 20240226 |