| Найдено документов - 2 | Найти похожие: "Индекс ББК" = 'Ж3-1в672' | Версия для печати |
Сортировать по:
1. Документ
Сдобняков Николай Юрьевич.
Исследование морфологии рельефа методом сканирующей туннельной микроскопии : научно-исследовательский практикум / Сдобняков Николай Юрьевич, Зыков Тимур Юрьевич, Базулев Анатолий Николаевич; ГОУ ВПО "Твер. гос. ун-т", Каф. теорет. физики. - Тверь : Тверской государственный университет, 2009. - 34, [1] с. : ил., табл. - Библиогр. в конце кн. (37 назв.). - ISBN 978-5-7609-0533-8 : 50.00.
Исследование морфологии рельефа методом сканирующей туннельной микроскопии : научно-исследовательский практикум / Сдобняков Николай Юрьевич, Зыков Тимур Юрьевич, Базулев Анатолий Николаевич; ГОУ ВПО "Твер. гос. ун-т", Каф. теорет. физики. - Тверь : Тверской государственный университет, 2009. - 34, [1] с. : ил., табл. - Библиогр. в конце кн. (37 назв.). - ISBN 978-5-7609-0533-8 : 50.00.
Авторы: Сдобняков Николай Юрьевич, Зыков Тимур Юрьевич, Базулев Анатолий Николаевич
Шифры: В371.2 - С 27
Ключевые слова: Исследование морфологии рельефа, Материаловедение, Металлические пленки, Микроскопия, Морфология рельефа, Наноразмерные пленки, Наноструктурные материалы, Научно-исследовательские практикумы, Поверхности твердых тел, Поверхностные явления, Практикумы, Рельеф поверхности, Сканирующая зондовая микроскопия, Сканирующая туннельная микроскопия, Структура твердых тел, Твердые тела, Тонкие металлические пленки, Тонкие пленки золота, Туннельная микроскопия, Физика поверхности, Физика твердого тела
Экземпляры: Всего: 5, из них: к3-5
Ссылка на ресурс: http://texts.lib.tversu.ru/texts/148321ogl.pdf
Подробнее
Аннотация: Научно-исследовательский практикум содержит описание технологических основ современных сканирующих туннельных микроскопов (СТМ). Кроме того, в научно-исследовательском практикуме приведен краткий обзор основных методик туннельной микроскопии, в частности СТМ литография, методы постоянного тока и постоянной высоты. В практикуме также уделено большое внимание методикам приготвления зондов для СТМ. На примере использования нанотехнологического комплекса "Умка 02-G" описаны результаты исследования морфологии рельефа тестового образца "золото на слюде". Научно-исследовательский практикум предназначен для специалистов в области исследования наноструктурных материалов и нанотехнологий, физики твердого тела, материаловедения, для студентов и аспирантов соответствующих специальностей. Научно-исследовательский практикум подготовлен и апробирован на кафедре теоретической физики Тверского государственного университета. Работа выполнена при поддержке РФФИ (гранты: № 07-03-00243-а "Термодинамический подход к проблеме устойчивости наносистем и наноструктурных материалов" и № 08-03-05027-б "Развитие МТБ для проведения исследований по области знаний 03 (обеспечение исследований по зондовой микроскопии наносистем).
2. Документ
Кларк Эшли Р.
Микроскопические методы исследования материалов / Кларк Эшли Р.; Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт ; пер. с англ. С. Л. Баженова ; Рос. Акад. наук, Ин-т синтетич. полимер. материалов им. Н. С. Ениколопова. - Москва : Техносфера, 2007. - 371 с. : ил., портр. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-94836-121-5 : 160.00.
Микроскопические методы исследования материалов / Кларк Эшли Р.; Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт ; пер. с англ. С. Л. Баженова ; Рос. Акад. наук, Ин-т синтетич. полимер. материалов им. Н. С. Ениколопова. - Москва : Техносфера, 2007. - 371 с. : ил., портр. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-94836-121-5 : 160.00.
Авторы: Кларк Эшли Р., Эберхардт Колин Н., Баженов С. Л.
Шифры: Ж3 - К47
Ключевые слова: Исследование материалов, Материаловедение, Материалы, Микроскопические методы, Оптическая микроскопия
Экземпляры: Всего: 1, из них: к3-1
Подробнее