Найдено документов - 8 | Найти похожие: "Индекс ББК" = 'Г512.5 или В371.21' | Версия для печати |
Сортировать по:
1. Книга
Ищенко Анатолий Александрович.
Дифракция электронов: структура и динамика свободных молекул и конденсированного состояния вещества / Ищенко Анатолий Александрович, Гиричев Георгий Васильевич, Тарасов Юрий Игоревич. - Москва : ФИЗМАТЛИТ, 2012. - 614 с. : ил., табл., цв. ил. ; 25 см. - На 4-й с. обл. авт.: А. А. Ищенко, д.х.н., проф., Г. В. Гиричев, д.х.н., проф., Ю. И. Тарасов, д.ф.-м.н. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 611-614. - ISBN 978-5-9221-1447-9 : 690.00.
Дифракция электронов: структура и динамика свободных молекул и конденсированного состояния вещества / Ищенко Анатолий Александрович, Гиричев Георгий Васильевич, Тарасов Юрий Игоревич. - Москва : ФИЗМАТЛИТ, 2012. - 614 с. : ил., табл., цв. ил. ; 25 см. - На 4-й с. обл. авт.: А. А. Ищенко, д.х.н., проф., Г. В. Гиричев, д.х.н., проф., Ю. И. Тарасов, д.ф.-м.н. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 611-614. - ISBN 978-5-9221-1447-9 : 690.00.
Авторы: Ищенко Анатолий Александрович, Гиричев Георгий Васильевич, Тарасов Юрий Игоревич
Шифры: Г512.5 - И 98
Ключевые слова: Газовая электронография, Дифракционные методы, Дифракция электронов, Конденсированное состояние, Методы изучения, Молекулы, Свободные молекулы, Строение молекул, Структура молекул, Структурная динамика, Структурная химия, Структурный анализ, Твердые тела, Физика конденсированного состояния, Физическая химия, Химия, Электронография, Электроны
Экземпляры: Всего: 1, из них: к3-1
Подробнее
Аннотация: Представлены современные достижения в теории и эксперименте метода дифракции электронов в 4D пространственно-временном континууме. Даны основы классической газовой электронографии, в том числе высокотемпературной, на основе понятия поверхности потенциальной энергии. Введение развертки во времени в дифракционные методы с использованием пикосекундных и фемтосекундных электронных диагностирующих импульсов, синхронизированных с импульсами возбуждающего лазерного возбуждения, позволило разработать методы сверхбыстрой электронной кристаллографии, дифракции рентгеновских лучей с временным разрешением и динамической просвечивающей электронной микроскопии, томографии молекулярного состояния. Становится возможной визуализация переходных процессов при фотовозбуждении свободных молекул и биологических обьектов, анализ процессов на поверхности и в наноструктурах. Для широкого круга читателей, студентов, аспирантов, научных работников, интересующихся проблемами структуры и динамики наноматериалов, строением вещества.
2. Документ
Синдо Дайзуке.
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия / Синдо Дайзуке; Д. Синдо, Т. Оикава ; пер. с англ. С. А. Иванова. - Москва : Техносфера, 2006. - 249, [4] с. : ил., табл. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-94836-064-4 : 198.11.
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия / Синдо Дайзуке; Д. Синдо, Т. Оикава ; пер. с англ. С. А. Иванова. - Москва : Техносфера, 2006. - 249, [4] с. : ил., табл. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-94836-064-4 : 198.11.
Авторы: Синдо Дайзуке, Оикава Тецуо, Иванов С. А.
Шифры: В371.2 - С38
Ключевые слова: Микроскопия, Электронная микроскопия, Аналитическая электронная микроскопия, Просвечивающая электронная микроскопия, Микроскопы, Электронные микроскопы, Просвечивающие электронные микроскопы
Экземпляры: Всего: 2, из них: к3-2
Подробнее
3. Документ
Математическое моделирование композиционных объектов : [Сб. ст.] / Рос. АН. ВЦ; [Отв. ред. В.Р. Хачатуров]. - Москва : Вычисл. центр РАН, 1994. - 137,[1] с. : ил. - Библиогр. конце ст. - Библиогр. в конце ст. - ISBN 5-201-09914-9 : 1 500-00.
Шифры: Г522.2 - М34
Ключевые слова: Кристаллические структуры, Кристаллохимия, Композиционные материалы
Экземпляры: Всего: 1, из них: к3-1
Подробнее
4. Книга
Валиев Руслан Зуфарович.
Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии / Валиев Руслан Зуфарович, Вергазов Анатолий Николаевич, Герцман Валерий Юрьевич; [отв. ред. д.т.н. О. А. Кайбышев] ; АН СССР, Ин-т пробл. сверхпластичности металлов. - Москва : Наука, 1991. - 231, [1] c. : ил., табл. - Библиогр.: с. 221-225 (115 назв.). - ISBN 5-02-000195-3 : 90.00.
Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии / Валиев Руслан Зуфарович, Вергазов Анатолий Николаевич, Герцман Валерий Юрьевич; [отв. ред. д.т.н. О. А. Кайбышев] ; АН СССР, Ин-т пробл. сверхпластичности металлов. - Москва : Наука, 1991. - 231, [1] c. : ил., табл. - Библиогр.: с. 221-225 (115 назв.). - ISBN 5-02-000195-3 : 90.00.
Авторы: Валиев Руслан Зуфарович, Вергазов Анатолий Николаевич, Герцман Валерий Юрьевич, Кайбышев Оскар Абрамович
Шифры: В371.2 - В 15
Ключевые слова: Кристаллогеометрический анализ, Кристаллография, Микроскопия, Электронная микроскопия
Экземпляры: Всего: 1, из них: к3-1
Подробнее
5. Документ
Колпаков Андрей Васильевич.
Динамическая дифракция рентгеновских лучей / Колпаков Андрей Васильевич; А. В. Колпаков; МГУ им. М. В. Ломоносова, Физ. фак. - Москва : Московский государственный университет, 1989. - 157 с. : ил. ; 22 см. - (Физика). - Библиогр.: с. 157. - ISBN 5-211-01439-1 : 0.30.
Динамическая дифракция рентгеновских лучей / Колпаков Андрей Васильевич; А. В. Колпаков; МГУ им. М. В. Ломоносова, Физ. фак. - Москва : Московский государственный университет, 1989. - 157 с. : ил. ; 22 см. - (Физика). - Библиогр.: с. 157. - ISBN 5-211-01439-1 : 0.30.
Шифры: В371.2 - К61
Экземпляры: Всего: 1, из них: к3-1
Подробнее
6. Книга
Афанасьев Александр Михайлович.
Рентгеновская структурная диагностика в исследовании приповерхностных слоев монокристаллов / Афанасьев Александр Михайлович, П. А. Александров, Р. М. Имамов. - Москва : Наука, 1986. - 94, [1] с. : ил. ; 20 см. - (Проблемы науки и технического прогресса). - Библиогр.: с. 93 (25 назв.). - Предм. указ.: с. 94-95. - 0.75.
Рентгеновская структурная диагностика в исследовании приповерхностных слоев монокристаллов / Афанасьев Александр Михайлович, П. А. Александров, Р. М. Имамов. - Москва : Наука, 1986. - 94, [1] с. : ил. ; 20 см. - (Проблемы науки и технического прогресса). - Библиогр.: с. 93 (25 назв.). - Предм. указ.: с. 94-95. - 0.75.
Авторы: Афанасьев Александр Михайлович, Александров П. А. , Имамов Р. М.
Шифры: В371.2 - А 94
Ключевые слова: Рентгеноструктурный анализ, Структурный анализ твердых тел, Твердые тела, Физика твердого тела
Экземпляры: Всего: 1, из них: к3-1
Подробнее
7. Документ
Нейтроны и твердое тело. Т. 3 : Нейтронная спектроскопия /Ю. А. Изюмов, Н. А. Черноплеков / Под общ. ред. Р. П. Озерова. - Москва : Энергоатомиздат, 1983. - 328 с. : ил. - Библиогр.: с. 249-254. - <null>.
Авторы: Изюмов Юрий Александрович, Черноплеков Николай Алексеевич, Озеров Р. П.
Шифры: В373.3 - Н46
Ключевые слова: Нейтроны, Твердые тела, Спектроскопия твердых тел, Нейтронная спектроскопия
Экземпляры: Всего: 1, из них: к3-1
Подробнее
8. Книга
Хейкер Даниэль Моисеевич.
Рентгеновская дифрактометрия монокристаллов / Хейкер Даниэль Моисеевич; Спец. конструктор. бюро рентгеновской аппаратуры. - Ленинград : Машиностроение, 1973. - 255, [1] с. : ил. - (Методы рентгеновского анализа / под общ. ред. Н. И. Комяка ; вып. 2). - Библиогр.: с. 245-254. - 110.00.
Рентгеновская дифрактометрия монокристаллов / Хейкер Даниэль Моисеевич; Спец. конструктор. бюро рентгеновской аппаратуры. - Ленинград : Машиностроение, 1973. - 255, [1] с. : ил. - (Методы рентгеновского анализа / под общ. ред. Н. И. Комяка ; вып. 2). - Библиогр.: с. 245-254. - 110.00.
Шифры: В371.2 - Х 35
Ключевые слова: Дифрактомеры, Дифрактометрия, Монокристаллы, Рентгеновская дифрактометрия, Рентгеноструктурный анализ монокристаллов
Экземпляры: Всего: 1, из них: к3-1
Подробнее
Аннотация: До недавнего времени единственным методом рентгенографических измерений был фотографический. В последние годы созданы новые приборы для рентгеноструктурных исследований - дифрактометры, в которых рентгеновскую пленку заменили счетчики квантов. Применение дифрактометров повышает точность, чувствительность и экспрессность рентгеновских методов исследования, что расширяет области применении их (например, в промышленности эти приборы можно использовать в качестве датчиков при автоматизации технологических линий). В книге систематически изложены вопросы дифрактометрии, рассказано об устройстве днфрактометров и методике работы с ними, о методах исследования различных материалов.